產品中心
PRODUCTS CNTER
相關文章
光致發光主要對材料能帶結構，雜質濃度和缺陷，組分機理以及材料質量進行檢測。 WT-2000PL專門針對PL應用開發，具有非接觸，快速，可變溫，光斑等特點。
更新時間：2025-04-24
產品型號：WT-2000PL
瀏覽量：537
Semilab PV-2000A是業界功能最（zui）先進的，用于晶硅太陽能電池片生產及光伏工藝研發的非接觸電學表征系統,以滿足硅片到成品電池片不同工藝控制的測試需求。
更新時間：2025-04-24產品型號：瀏覽量：507
LEI Model2017B，通過汞探針接觸方法，對各類半導體材料的載流子濃度分布進行測試，特別適合GaN.SiC等化合物材料。
更新時間：2025-04-24產品型號：LEI Model2017B瀏覽量：401
汞CV測試系統，用于對外延或前道工藝中的non-pattemed晶片做汞C-V測試; MCV-530L可測最大200mm的樣品。
更新時間：2025-04-23產品型號：瀏覽量：559
CV-1500，用于測試界面和介電層的科研平臺，基于SDI Corona-Kelvin技術，可以進行非接觸C-V/I-V測試。
更新時間：2025-04-23產品型號：瀏覽量：546公司郵箱： qgao@buybm.com
服務熱線： 021-61052039
公司地址： 上海市浦東新區疊橋路456弄創研智造C7區301室
Copyright © 2025 上海波銘科學儀器有限公司 AlL Rights Reserved
備案號：滬ICP備19020138號-2
技術支持：化工儀器網 管理登錄 sitemap.xml
關于我們
公司簡介 企業文化 榮譽資質 聯系我們快速通道
產品中心 新聞中心 技術文章 在線留言推薦產品
OPTM 系列顯微分光膜厚儀 半導體晶圓缺陷檢測儀 ELSZ-2000系列ZETA電位 · 粒徑 · 分子量測試系統 RU120便攜式拉曼光譜儀
當前位置：
產品分類