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產(chǎn)品中心半導(dǎo)體材料測試CV測試LEI Model2017B汞探針測試
產(chǎn)品簡介
LEI Model2017B，通過汞探針接觸方法，對各類半導(dǎo)體材料的載流子濃度分布進行測試，特別適合GaN.SiC等化合物材料。
產(chǎn)品分類
可提供多個肖特基結(jié)構(gòu)
特殊設(shè)計的肖特基接觸，使串聯(lián)電阻最小。
精確的真空控制
上海波銘科學(xué)儀器有限公司主要提供光譜光電集成系統(tǒng)、晶萃光學(xué)機械和光學(xué)平臺、激光器、Edmund 光學(xué)元件、Newport 產(chǎn)品、濱松光電探測器、卓立漢光熒光拉曼光譜儀、是德 Keysight 電學(xué)測試系統(tǒng)、大塚 Otsuka 膜厚儀、鑫圖科研級相機、Semilab 半導(dǎo)體測試設(shè)備及高低溫探針臺系統(tǒng)。經(jīng)過多年的發(fā)展，上海波銘科學(xué)儀器有限公司在市場上已取得了一定的地位。我們的產(chǎn)品和服務(wù)在行業(yè)內(nèi)具有較高的知zhi名度和美譽度，客戶遍布全國。我們將繼續(xù)努力，不斷提升市場地位和影響力。
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