CV-1500非接觸CV測試系統

產品簡介
CV-1500，用于測試界面和介電層的科研平臺，基于SDI Corona-Kelvin技術，可以進行非接觸C-V/I-V測試。

產品型號：

更新時間：2025-07-24

廠商性質：生產廠家

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半導體材料測試

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Capability:

Semiconductor Surface Barrier-V_s_b 表面勢壘
Oxide Total Charge -Q_tot 氧化物總電荷
Interface Trapped Charge-Q_it 界面電荷
Interface Trap Density-D_it 界面態密度
Di Spectrum:D_it vs. V_s_b
Dielectric Capacitance -C_D and thickness -CET 介電層電容和電學總厚度
Dielectric Leakage 介電層漏電

CV-1500非接觸CV測試系統

上海波銘科學儀器有限公司主要提供光譜光電集成系統、晶萃光學機械和光學平臺、激光器、Edmund 光學元件、Newport 產品、濱松光電探測器、卓立漢光熒光拉曼光譜儀、是德 Keysight 電學測試系統、大塚 Otsuka 膜厚儀、鑫圖科研級相機、Semilab 半導體測試設備及高低溫探針臺系統。經過多年的發展，上海波銘科學儀器有限公司在市場上已取得了一定的地位。我們的產品和服務在行業內具有較高的知zhi名度和美譽度，客戶遍布全國。我們將繼續努力，不斷提升市場地位和影響力。

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