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光譜系統

光探測磁共振譜拉曼光譜熒光光譜顯微缺陷膜厚半導體晶圓缺陷檢測儀高光譜測試系統瞬態吸收系統太陽能電池量子效率太陽光模擬器IV系統顯微光電流成像系統探測器光響應度系統光譜變溫附件探針臺拉曼SERS增強試劑熒光系統組合熒光系統鏡頭透過率測試系統漫反射率測試系統反射、吸收率系統成像亮度計標準燈參考輻射定標電致發光系統常規發射光譜系統共聚焦拉曼光譜儀

膜厚量測儀 FE-300

薄膜到厚膜的測量范圍 UV~NIR光譜分析高性能的低價光學薄膜量測儀藉由絕對反射率光譜分析膜厚完整繼承FE-3000高gao端機種90%的強大功能無復雜設定，操作簡單

更新時間：2025-07-24

產品型號：

瀏覽量：990
膜厚測量系統 FE-3700/5700

可以高速、高精度地測量各種玻璃基板上各種薄膜的膜厚和光學常數。除了支持包括下一代尺寸在內的大型玻璃基板外，它還支持 LCD、TFT 和有機 EL。

更新時間：2025-07-24

產品型號：

瀏覽量：746
線掃描膜厚儀（離線型）

●全面高速高精度進行薄膜等面內膜厚不均一性檢測 ●硬件&軟件均為創新設計 ●作為專業膜厚測定廠商，提供多種支援 ●實現高精度測量（已取得專zhuan利） ●實現高速測量（500萬點以上/分）

更新時間：2025-07-24

產品型號：

瀏覽量：905
線掃描膜厚儀（在線型）

●采用線掃描方式檢測整面薄膜 ●硬件&軟件均為創新設計 ●作為專業膜厚測定廠商，提供多種支援 ●實現高精度測量（已獲取專zhuan利） ●實現高速測量 ●不受偏差影響 ●可對應寬幅樣品（TD方向最大可測量10m）

更新時間：2025-07-24

產品型號：

瀏覽量：874
紫外分光配光測量系統

●通過分光光度分布對紫外光進行高精度測量 ●從配光上評估紫外光的最大發光強度、光束開度、光束光通量 ●涵蓋從紫外線到可見光的波長范圍 ●支持從 LED 芯片到模塊和應用產品的廣泛樣品 ●用軟件批量控制電源和測量儀器

更新時間：2025-07-24

產品型號：

瀏覽量：577
紫外分光輻射照度測量系統 New

●該檢測器是一種高性能的分光光度計，在光源測量、反射/透射測量、過程測量等方面取得了多項成果。 ●覆蓋從紫外線到可見光的寬波長范圍 ●帶軟件的樣品照明電源，測量儀器批量控制 ●LIV測量，脈沖點測量，樣品溫控測量 ●設備校準的標準燈由我們自己的部門提供，并由 JCSS 校準公司注冊。

更新時間：2025-07-24

產品型號：

瀏覽量：573

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