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當前位置:首頁產品中心半導體材料測試半導體多功能測試WT-2000半導體多功能測試

WT-2000半導體多功能測試

產品簡介

WT-2000提供349nm,904nm,1064nm,1550nm等不同激發(fā)光,適合Si,SiC,GaAs,CdZnTe,InGaAs等各種材料電學參數測試。

產品型號:
更新時間:2025-04-23
廠商性質:生產廠家
訪問量:380
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· Measurement Options.
· μ-PCD 技術做少子壽命掃描測試
· 表面光電壓(SPV)做擴散長度面掃描測試
· 光誘導電流(LBIC)測試材料缺陷分布
· 測試特定金屬雜質和沾污:Fe
· 渦流法測試電阻率
· 4探針測試電阻率

WT-2000半導體多功能測試





上海波銘科學儀器有限公司主要提供光譜光電集成系統(tǒng)、晶萃光學機械和光學平臺、激光器、Edmund 光學元件、Newport 產品、濱松光電探測器、卓立漢光熒光拉曼光譜儀、是德 Keysight 電學測試系統(tǒng)、大塚 Otsuka 膜厚儀、鑫圖科研級相機、Semilab 半導體測試設備及高低溫探針臺系統(tǒng)。經過多年的發(fā)展,上海波銘科學儀器有限公司在市場上已取得了一定的地位。我們的產品和服務在行業(yè)內具有較高的知zhi名度和美譽度,客戶遍布全國。我們將繼續(xù)努力,不斷提升市場地位和影響力。

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