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當前位置:首頁產品中心光譜系統顯微缺陷膜厚高速相位差測量裝置 RE-200

高速相位差測量裝置 RE-200

產品簡介

● 可測從0nm開始的低(殘留)相位差
● 光軸檢出同時可高速測量相位差(Re.)
(相當于世界jie最zui快速的0.1秒以下來處理)
● 無驅動部,重復再現性高
● 設置的測量項目少,測量簡單
● 測量波長除了550nm以外,還有各種波長
● Rth測量、全quan方位角測量
(需要option的自動旋轉傾斜治具
● 通過與拉伸試驗機組合,可同時評價膜的偏光特性和光弾性
(本系統屬特注。)

產品型號:
更新時間:2025-04-23
廠商性質:生產廠家
訪問量:714
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產品信息

測量項目

● 相位差(ρ[deg.], Re[nm])
● 主軸方位角(θ[deg.])
● 橢圓率(ε)?方位角(γ)
● 三次元折射率(NxNyNz)

用 途

● 位相差膜、偏光膜、橢圓膜、視野角改善膜、各種功能性膜
● 樹脂、玻璃等透明、非均質材料(玻璃有變形,歪曲等)

原 理

● 什么是RE-200
● RE-200是光子結晶素子(偏光素子)、CCD相機構成的偏光計測模塊和透過的偏光光學系相組合,可高速且高精度的測量位相差(相位差)、及主軸方位角。CCD相機1次快門獲取偏光強度模式,沒有偏光子旋轉的機構,系統整體上是屬于小型構造,長時間使用也能維持穩定的性能。

高速相位差測量裝置 RE-200
執行擬合/傅立葉變換以計算橢圓度 ε 和方位角 γ。

 

高速相位差測量裝置 RE-200

規 格

型號RE series
樣品尺寸最小10×10mm ~最大100×100mm
測量波長550nm (標準仕樣)※1
相位差測量范圍約0nm ~約1μm
軸檢出重復精度0.05°(at 3σ) ※2
檢出器偏光計測模塊
測量光斑直徑2.2mm×2.2mm
光源100W 鹵素燈或 LED光源
本體?重量300(W) × 560(H) ×430(D) mm 、約20kg

Option
● Rth測量、全quan方位角測量※治具本體(旋轉:180°, 傾斜:±50°)
● 動旋轉傾斜治具

高速相位差測量裝置 RE-200高速相位差測量裝置 RE-200

測量示例

視角改善膜A

高速相位差測量裝置 RE-200

視角改善膜B

高速相位差測量裝置 RE-200


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