漫反射率測試系統

產品簡介
漫反射率測試系統光度測量準確度：1%以內（紫外-可見區），2%以內；（近紅外區）,漫反射率測試系統光度測量重復性：1% (450nm-1800nm) ；測試試樣尺寸(典型)：直徑大于15mm，若同時測試透過率，則樣品厚度必須小于5mm

產品型號：S-MRS系列

更新時間：2025-07-23

廠商性質：生產廠家

訪問量：2239

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PRODUCT CLASSIFICATION

光譜系統

光探測磁共振譜拉曼光譜熒光光譜顯微缺陷膜厚半導體晶圓缺陷檢測儀高光譜測試系統瞬態吸收系統太陽能電池量子效率太陽光模擬器IV系統顯微光電流成像系統探測器光響應度系統光譜變溫附件探針臺拉曼SERS增強試劑熒光系統組合熒光系統鏡頭透過率測試系統漫反射率測試系統反射、吸收率系統成像亮度計標準燈參考輻射定標電致發光系統常規發射光譜系統共聚焦拉曼光譜儀

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S-MRS系列漫反射率測試系統應用：

• 光譜測量范圍：350-2500nm ;光譜分辨率：2nm以下；光譜掃描步距：0.2-100nm可連續設置

• 波長準確度：優于±0.2nm（紫外-可見區），優于±0.5nm；（近紅外區）

• 光度測量準確度：1%以內（紫外-可見區），2%以內；（近紅外區）

• 光度測量重復性：1% (450nm-1800nm) ；測試試樣尺寸(典型)：直徑大于15mm，若同時測試透過率，則樣品厚度必須小于5mm

S-MRS系列漫反射率測試系統特點

• 光譜測量范圍：350-2500nm ;光譜分辨率：2nm以下；光譜掃描步距：0.2-100nm可連續設置

• 波長準確度：優于±0.2nm（紫外-可見區），優于±0.5nm；（近紅外區）

• 光度測量準確度：1%以內（紫外-可見區），2%以內；（近紅外區）

• 光度測量重復性：1% (450nm-1800nm) ；測試試樣尺寸(典型)：直徑大于15mm，若同時測試透過率，則樣品厚度必須小于5mm

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